第三代
            電晶體測試家族
            Third generation semiconductor testing family
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            分類
            QT-3101 UIL 雪崩測試

            QT-3101 UIL 雪崩測試適用於測試MOSFET、IGBT、二極體的雪崩參數



            支援雙DIE

            快速充電

            失效波形保存

            鉗壓功能

            型號 QT-3101 UIL
            產品優(yōu)勢 支援VDD ON(E=1/2L*I*I*BVDSS/(BVDSS-VDD))或VDD OFF(E=1/2*L*I*I)測試
            內建示波器
            極限能量掃描測試
            可設定單脈衝、多重脈衝或雙MOSFET測試
            可與QT-4100B共用一臺電腦,實現(xiàn)測試程式與資料統(tǒng)一管理
            主要特點 ? 輸出測量能力:最大測量BVdss:±3000V最大輸出ID:±150V 、±200A
            ? 可編輯VG MAX:±30V脈寬調節(jié)(解析度:1us)
            ? 可程式電感箱負載10μH-159.9mH步進10μH
            ? 可程式分選機介面訊號24個



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