第三代
電晶體測(cè)試家族
Third generation semiconductor testing family
分類
QT-8100HP 模擬IC測(cè)試系統(tǒng) (Cable-Mount)
常規(guī) DC、AC 參數(shù)測(cè)試、分立元件 Wafer 多 site 和 IC 功能性測(cè)試 主要測(cè)試：電源管理類，馬達(dá)驅(qū)動(dòng)類，音訊放大器、高速光耦、運(yùn)算放大器、小功率分立裝置等
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懸浮電源 |
多Site並行 |
多通道高精度 |
支援多種擴(kuò)展 |
| 型號(hào) | QT-8100HP |
| 產(chǎn)品優(yōu)勢(shì) |
? 20 個(gè)類比插槽（Max 216通道）/ 2 個(gè)數(shù)位插槽（ Max 32通道） ? 懸浮V/I源，四象限 ? 由測(cè)試盒引出全資源，8site並測(cè) ? 數(shù)位速率100Mhz，向量深度8M ? 真並測(cè)，多路1000V/20A高壓大電流 ? 18 bit 高精密採(cǎi)樣 ? 多通道高精度時(shí)間測(cè)量單元，支援ns等級(jí)時(shí)間測(cè)量 ? PCIE 卡測(cè)試效率更高 |
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